อนรรฆพล แสนทน. (2551) การตรวจสอบความสูงรอยนูน จากการบัดกรีในชิ้นส่วนฟลิบชิบ โดยใช้การประมวลผลภาพ /. มหาวิทยาลัยนเรศวร,:ม.ป.ท.อนรรฆพล แสนทน. 2551. การตรวจสอบความสูงรอยนูน จากการบัดกรีในชิ้นส่วนฟลิบชิบ โดยใช้การประมวลผลภาพ /. ม.ป.ท.:มหาวิทยาลัยนเรศวร,;อนรรฆพล แสนทน. การตรวจสอบความสูงรอยนูน จากการบัดกรีในชิ้นส่วนฟลิบชิบ โดยใช้การประมวลผลภาพ /. ม.ป.ท.:มหาวิทยาลัยนเรศวร, 2551. Print.