ธิษณา เพียรเลิศ. (2547) การตรวจจับร่องรอยที่ไม่ดีสำหรับรีแฟคทอริง โดยใช้มาตรวัดซอฟต์แวร์เชิงวัตถุ /. จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย,:ม.ป.ท.ธิษณา เพียรเลิศ. 2547. การตรวจจับร่องรอยที่ไม่ดีสำหรับรีแฟคทอริง โดยใช้มาตรวัดซอฟต์แวร์เชิงวัตถุ /. ม.ป.ท.:จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย,;ธิษณา เพียรเลิศ. การตรวจจับร่องรอยที่ไม่ดีสำหรับรีแฟคทอริง โดยใช้มาตรวัดซอฟต์แวร์เชิงวัตถุ /. ม.ป.ท.:จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2547. Print.