ภัทรจิตร มั่นทรัพย์. (2547) การตรวจสอบโครงสร้างจุลภาพของซิลิกอนเจอเมเนียม สำหรับทรานซิสเตอร์แบบจุดและแกเลียมไนไตรด์ สำหรับไดโอดเลเซอร์ โดยใช้เทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน /. จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย,:ม.ป.ท.ภัทรจิตร มั่นทรัพย์. 2547. การตรวจสอบโครงสร้างจุลภาพของซิลิกอนเจอเมเนียม สำหรับทรานซิสเตอร์แบบจุดและแกเลียมไนไตรด์ สำหรับไดโอดเลเซอร์ โดยใช้เทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน /. ม.ป.ท.:จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย,;ภัทรจิตร มั่นทรัพย์. การตรวจสอบโครงสร้างจุลภาพของซิลิกอนเจอเมเนียม สำหรับทรานซิสเตอร์แบบจุดและแกเลียมไนไตรด์ สำหรับไดโอดเลเซอร์ โดยใช้เทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน /. ม.ป.ท.:จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2547. Print.