<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<xml><bibliography><APA>กนกกร เจริญสรรพกิจ และผู้แต่งคนอื่นๆ. (2563) การเปรียบเทียบประสิทธิภาพของแผนภูมิควบคุมคุณภาพสําหรับการเฝ้าสังเกตจํานวนรอยตําหนิในกระบวนการผลิต. &lt;i&gt;วารสารวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี&lt;/i&gt;, &lt;i&gt;28&lt;/i&gt;(8), 1334-1345.</APA><Chicago>กนกกร เจริญสรรพกิจ และผู้แต่งคนอื่นๆ. "การเปรียบเทียบประสิทธิภาพของแผนภูมิควบคุมคุณภาพสําหรับการเฝ้าสังเกตจํานวนรอยตําหนิในกระบวนการผลิต". วารสารวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี  28 (2563):1334-1345.</Chicago><MLA>กนกกร เจริญสรรพกิจ และผู้แต่งคนอื่นๆ. การเปรียบเทียบประสิทธิภาพของแผนภูมิควบคุมคุณภาพสําหรับการเฝ้าสังเกตจํานวนรอยตําหนิในกระบวนการผลิต. กองบริหารการวิจัย:ม.ป.ท. 2563.</MLA></bibliography></xml>
