<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<xml><bibliography><APA>มาริษา นาคใหม่ และผู้แต่งคนอื่นๆ. (2558) การเปรียบเทียบประสิทธิภาพของแผนภูมิควบคุมสำหรับจำนวนรอยตำหนิ. &lt;i&gt;วารสารวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี&lt;/i&gt;, &lt;i&gt;23&lt;/i&gt;(3), 349-361.</APA><Chicago>มาริษา นาคใหม่ และผู้แต่งคนอื่นๆ. "การเปรียบเทียบประสิทธิภาพของแผนภูมิควบคุมสำหรับจำนวนรอยตำหนิ". วารสารวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี  23 (2558):349-361.</Chicago><MLA>มาริษา นาคใหม่ และผู้แต่งคนอื่นๆ. การเปรียบเทียบประสิทธิภาพของแผนภูมิควบคุมสำหรับจำนวนรอยตำหนิ. กองบริหารการวิจัย มหาวิทยาลัยธรรมศาสตร์:ม.ป.ท. 2558.</MLA></bibliography></xml>
